CT6 ist eine Hochfrequenz-Stromprobe mit einer Bandbreite von 250 kHz bis 2 GHz zur Anwendung mit breitbandigen Oszilloskopen mit einer Eingangsimpedanz von 50 Ω. Der Tastkopf wurde entwickelt, um die Anforderungen von Hochgeschwindigkeits-Schaltungsentwürfen und Testanwendungen an eine sehr hohe Bandbreite, eine niedrige Induktivität und einen kleinen Formfaktor zu erfüllen. Die niedrige Induktivität (< 3 nH) stellt sicher, dass die Belastung durch die CT6-Probe auf die zu testende Schaltung vernachlässigbar ist. Dies ist besonders wichtig für Schaltungsdesigns mit niedriger Signalamplitude und hohen Übertragungsgeschwindigkeiten.
Typisches Einsatzgebiet ist z. B. die Entwicklung und Produktion von Lese-/Schreibvorverstärkern für Plattenlaufwerke. Die Sonde ist ein geschlossener Stromkreis, der nicht isolierte Drähte mit einem Durchmesser von bis zu 0,8 mm aufnehmen kann. Aufgrund der maximalen Spannung von 30 V erfüllt CT6 die Anforderungen nach CAT I.
Die Stromprobe CT6 ist für die dauerhafte oder semi-permanente Installation in einem Stromkreis vorgesehen. Die Probe besteht aus einem Stromwandler mit integriertem 50 Ω-Verbindungskabel.
Differenzielle Strommessung:
Die meisten True-Differential-Spannungsverstärker haben eine maximale Bandbreite von etwa 100 MHz. Die Stromprobe CT6 kann Differenzstrommessungen bis 2 GHz durchführen, indem zwei Drähte mit entgegengesetzten Strömen durch denselben Kern geführt werden. Das angezeigte Ergebnis ist der Differenzstrom.
Messungen der Ausbreitungsverzögerung:
Zwei CT6-Stromwandler mit passenden Kabeln gleicher Signallaufzeiten können
zur Messung der Signallaufzeit (Transitzeit) zwischen dem Eingangsstrom und Ausgangsstrom
von Hochfrequenzkomponenten verwendet werden. Die beiden Ausgänge der Stromproben werden an die Eingänge eines Zweikanal-Echtzeit-Sampling-Oszilloskops angeschlossen.
Jegliche Fehlanpassung von Probe/Kabel/Scope kann verifiziert werden, indem derselbe Signalstrom durch beide Stromproben geleitet wird und die Systemverzögerungs-Zeitdifferenz gemessen wird.
Anwendungsbereiche:
- Lesekanal-Design bei Datenspeichern
- Silizium-Charakterisierung
- Hochfrequenz-Analogdesign
- ESD-Prüfung
- Signaleinspeisung
- Differential-Strommessungen
- Single-Shot-Impulsmessungen mit niedriger Wiederholungsrate
- Messung der Ausbreitungsverzögerung