YIC Technologies RFSCANNER | 2D & 3D Scanner zur Antennenmuster-Messung und Diagnose, 300 MHz - 6 GHz

Name: RFSCANNER | 2D & 3D Scanner zur Antennenmuster-Messung und Diagnose, 300 MHz - 6 GHz
Brand: YIC Technologies
SKU: RFSCANNER
Availability: OutOfStock

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YIC Technologies RFSCANNER | 2D & 3D Nah- und Fernfeldscanner zur Antennenmuster-Messung und Diagnose, Bandbreite 300 MHz - 6 GHz.

Breitband-Frequenzabdeckung: 300 MHz - 6 GHz
Messempfindlichkeit: 0 dBm source power for a reasonably efficient antenna
Messgenauigkeit: Typically +/- 1,5 dB* (700 MHz - 6 GHz)
Reproduzierbarkeit der Messung: +/- 0,2 dB
Fernfeld-Auflösung: 1.8° für Theta und 3.6° für Phi
Max. Radiator-Größe: L 16 cm x W 10 cm
Auflösung Bandbreite: Resolution Bandwidth = IF Bandwidth of 60MHz
Modulationsformate:
GSM / CDMA / WCDMA / Wi-Fi / WiMAX / LTE
Bluetooth
RFID
GPS
Custom antenna
Anschlüsse: PC: USB // Power: 6 VDC, 3.0 A
Abmessungen (L x B x H): 321 mm x B 240 mm x 70 mm
Gewicht: 3,8 kg

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Beschreibung

RFSCANNER | 2D & 3D Scanner zur Antennenmuster-Messung und Diagnose, 300 MHz - 6 GHz

Der RFScanner von Y.I.C. Technologies ist ein kompakter Tischscanner zur Charakterisierung von Antennen, der Sie dabei unterstützt, Ihre embedded Antennen-Designs in Echtzeit zu analysieren und mehrere Entwurfsiterationen in jeder Phase des Entwurfsprozesses in Sekundenschnelle auf dem Labortisch zu testen. Der Y.I.C. RFScanner liefert Fernfeldmuster, Bisektionen, EIRP und TRP in Sekunden. Neuartige Nahfeldergebnisse, einschließlich Amplitude, Polarität und Phase, geben Einblicke in die Ursachen von Antennenleistungsproblemen und helfen bei der Fehlersuche in Fernfeld-Strahlungsmustern.

Verbinden Sie den RFScanner mit einem Netzwerkanalysator oder einem Spectrum Analyzer mit Tracking-Generator, um den Gewinn, die Effizienz und S11 einer Antenne über einen Frequenzbereich zu messen.

Ingenieuren im Bereich Wireless können mithilfe des RFScanner »Rapid Prototyping« betreiben und neue Designs, neue Materialien und neue Formen erforschen. Wireless-Ingenieure und Designer testen unkompliziert mehrere Designvarianten und können selbst komplexe Embedded-Designs in Sekundenschnelle an ihrem Labortisch optimieren, ohne Zeit für Messungen in Schirmkammern zu benötigen. Optimieren Sie die Positionierung und die Auswirkungen des Layouts, überwachen Sie Änderungen am Layout oder der Leistung des Endprodukts in Echtzeit. Unternehmen Sie die Abnahmemessung in der Schirmkammer beruhigt, um die endgültigen Zertifizierungsanforderungen zu erfüllen, da sie wissen, dass ihr Design auf Anhieb erfolgreich sein wird.

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14.12.22

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Infos zum Hersteller

YIC Technologies

Die aus Großbritannien stammende Firma YIC Technologies ist auf Nahfeld EMV Scanner-Boards zur Echtzeit-Visualisierung von Signalemissionen spezialisiert, mit welchen sich EMC- und EMI-relevante Signale in Echtzeit visualisieren lassen, um Signalemissionen nachzuweisen.

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