YIC Technologies EMP-DBT-M | EMProbe Grundgerät, Hauptarm Scanbereich 250 mm und 180°, 3-D Präzisionsscan für Nahfeldsonden

Name: EMP-DBT-M | EMProbe Grundgerät, Hauptarm Scanbereich 250 mm und 180°, 3-D Präzisionsscan für Nahfeldsonden
Brand: YIC Technologies
SKU: EMP-DBT-M
Availability: OutOfStock

Herstellernummer: EMP-DBT-M

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YIC Technologies EMP-DBT-M | EMProbe Grundgerät, Scanbereich 250 mm und 180°, physische Auflösung 0,25 mm für Nahfeldsonden zur EMV- und EMI Diagnose.

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Beschreibung

EMP-DBT-M | EMProbe Grundgerät, Hauptarm Scanbereich 250 mm und 180°, 3-D Präzisionsscan für Nahfeldsonden

Mit dem Y.I.C. Technologies EMProbe verwenden Sie tragbare Nahfeldsonden so einfach wie nie zuvor für exakte und wiederholbare EMV- und EMI Diagnosen direkt auf Ihrem Labortisch.

Dank der 3D-Präzisionstechnologie untersuchen Sie Leiterplatten mit schmalen Strukturen oder kleine Fertigprodukte und identifizieren EMV / EMI-Probleme mithilfe einer robotergeführten Nahfeldsonde. Über die EMViewer-Software steuern sie den Roboterarm und die daran befestigte Sonde in jede Richtung oder kombinieren die 3D-Analyse der EMProbe mit den 2D-Ergebnissen der bekannten EMScanner. Ein externer Spektrumanalysator dient zur Messung der Signale, die Visualisierung über nimmt die EMViewer Software.

Für größere Scanbereiche lässt sich die Lösung skalieren. Sprechen Sie uns einfach an.

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14.12.22

Lesedauer 4 Min.

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Infos zum Hersteller

YIC Technologies

Die aus Großbritannien stammende Firma YIC Technologies ist auf Nahfeld EMV Scanner-Boards zur Echtzeit-Visualisierung von Signalemissionen spezialisiert, mit welchen sich EMC- und EMI-relevante Signale in Echtzeit visualisieren lassen, um Signalemissionen nachzuweisen.

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