Anwendungen & Applikationen
Doppelpulstest-Lösung für Leistungshalbleiter von Tektronix.
Es wird allgemein erwartet, dass Bauelemente mit großer Bandlücke (Wide Bandgap), die Transistoren aus Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN) verwenden, die herkömmlichen Leistungs-MOSFETs und IGBTs auf Siliziumbasis in der Leistungselektronik und Motorsteuerung weitgehend ersetzen werden, da sie höhere Schaltgeschwindigkeiten und geringere Leistungsverluste aufweisen. Neue Stromrichterdesigns, die auf SiC- und GaN-MOSFETs basieren, erfordern ein sorgfältiges Design und Testen, um die Leistung zu optimieren.
Beschleunigen Sie die Validierung von SiC- und GaN-Energiesystemen
Testlösungspaket Tektronix SOLN-WBG
Diese Testlösung vereinfacht die Analyse von Systemen mit großen Bandlücken und ermöglicht Teams die schnelle Messung wichtiger WBG-DPT-Parameter.
Highlights:
- Einzigartige Algorithmen zur Flankenverfeinerung für die Analyse verrauschter Signalformen
- On-Scope-Analyse mit 13 normkonformen Messungen gemäß JEDEC und IEC direkt auf dem Messgerät
- 1 GHz Bandbreite für die einfache Analyse hochfrequenter bzw. schnell schaltender Signale
- High-Side- und Low-Side-Tastköpfe mit hoher Rauschunterdrückung
Paket bestehend aus:
- Oszilloskop MSO58B, 8-Kanal mit 1 GHz Bandbreite
- Oszilloskop-Softwareapplikation 5-WBG-DPT für normenkonforme Doppelpulsmessungen
- Oszilloskop-Softwareapplikation 5-PWR für erweiterte Leistungsmessungen
- Hochspannungs-Differenztastkopf THDP0200 mit 200 MHz, ±750 V
- AC/DC-Stromtastkopf TCP0030A mit 30 A RMS 120 MHz oder TCP0150 mit 150 A RMS 20 MHz
- PC-Analyse-Software TekScope für die PCs Ihrer Teams als Erweiterung des Oszilloskops mit den gleichen Analyse- und Messfunktionen
- Kollaborative Arbeitsumgebung / Datenspeicher TekDrive ermöglicht die nahtlose Zusammenarbeit zwischen Mitarbeitern und Teams überall auf der Welt
- 3 Jahre Total-Protection-Plan inkl. erweiterter Garantie und Kalibrierungsservice
Die Einzelkomponenten:
Weitere Komponenten für zusätzliche Funktionen
- Optisch isolierter IsoVu-Tastkopf mit extrem hoher Gleichtakt-Rauschunterdrückung und präzisen Messergebnissen, um versteckte Details bei High-Side-VGS-Messungen aufzudecken
- 2-Kanal Arbiträr-Funktionsgenerator mit integriertem Doppelpulstests (herunterladbares Plugin) zur Erzeugung von Spannungsimpulsen mit unterschiedlichen Pulsbreiten auf die DUTs
- Programmierbare 3-Kanal DC-Stromversorgung für die Gate-Treiberleistung
- Hochspannungs-DC-Stromversorgung oder SourceMeter für VDD, die an den Drain des Transistors angelegte Spannung
Wir finden auch für Ihre Messaufgaben die optimale Testlösung. Meine Kollegen und ich beraten Sie gerne.
dataTec Experte Suman Kumar Mondal
Applikationsingenieur | Elektronische High-End-Messtechnik