Das TDP4000 Differential Probe ist die ideale Wahl für präzise Hochfrequenzmessungen bis zu 4 GHz in digitalen Systemdesigns. Mit einer differenziellen Eingangskapazität von ≤0,3 pF und einer Eingangsimpedanz von 100 kΩ bietet es exzellente Signalgenauigkeit und minimiert Belastungseffekte auf das Device Under Test (DUT). Seine kompakte Bauweise ermöglicht eine einfache Anbindung an kleine SMDs, während die direkte Integration mit TekVPI™-Schnittstellen-Oszilloskopen eine intuitive Bedienung und umfassende Messfunktionalität gewährleistet. Ideal für Designvalidierung, Fehlerbehebung und Hochgeschwindigkeits-Signalintegritätsanalysen wie I²C, SPI und mehr.