Mit dem Keramik-Tastkopf-Tip N5440A ist die kapazitive und ohmsche Belastung des zu testenden Signals am geringsten. Dieser Tastkopf-Tip kann an ein IC oder in die Schaltung an-/eingelötet werden. Mit dem zu verwendenden ZIF-Kopf N5439A kann der Tip am Testobjekt verbleiben, während man den ZIF-Kopf auf einen anderen Testkopf-Tip steckt.
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