Spannungs- und Strommessungen mit schnellen, präzisen Messergebnissen: Die Source Measure Unit (SMU) B2901B der Serie B2900B/BL von Keysight ist eine kompakte, präzise und kosteneffiziente Lösung für den Entwicklungsbereich und das Prüffeld. Die Präzisions-Quelle-Messeinheit eignet für vor allem für I-V-Messanwendungen, die eine besonders hohe Messauflösung und -genauigkeit erfordern. Durch die Integration von Quelle und Messeinheit in einem Gerät erhöht sich Ihr Testdurchsatz.
Hauptmerkmale:
- Integrierte Funktion als Quelle und Messgerät: einfaches und genaues Messen von Strom und Spannung mit nur einem Gerät und ohne manuelle Änderung der Anschlüsse
- Großer Strom- und Spannungsmessbereich: für ein breites Anwendungsspektrum in der Forschung und Entwicklung, Ausbildung und Produktion einschließlich standardisierter Hochspannungs- und Hochstrommessungen
- Herausragende Messperformance: sehr hohe Quelle- und Messauflösung für präzise Low-Level-Messungen sowie hohe Messgeschwindigkeit für erhöhte Testdurchsätze und Kosteneffizienz
- Innovative GUI und 4,3-Zoll-LCD-Farbdisplay: grafische und numerische Darstellung der Messergebnisse vereinfacht die Fehlersuche und die Charakterisierung
- Integrierte AWG-Messfunktionalität: Arbiträr-Signalerzeugung für Kurvenformen mit bis zu 100.000 Stufen und Sweep-Funktionen unterstützen die Charakterisierung von Geräten in Abhängigkeit von der angelegten Spannung/Strom
- SCPI-Programmierung für die Gerätesteuerung: zwei SCPI-Befehlssätze, konventionell und Standard, erlauben die Kompatibilität mit älteren SMU-Modellen und maximieren die Leistungsfähigkeit der Serie B2900B/BL
Die SMU-Serie B2900B/BL bietet insgesamt sechs Modelle mit einer Ausgangsspannung von bis zu 210 V und einem maximalen Ausgangsstrom von 3 A DC bzw. 10,5 A gepulst. Dies ermöglicht eine große Anwendungsvielfalt mit nur einem einzigen Gerät. Die hohe Messauflösung von bis zu 10 fA / 100 nV ermöglicht die präzise Charakterisierung selbst von schwachen Signalereignissen. Das Farbdisplay unterstützt graphische und numerische Anzeigen. Ihre Messergebnisse sind damit optimal lesbar, was die Fehlersuche erleichtert und die Produktivität und Kosteneffizienz steigern kann.
Anwendungsbeispiele:
- Test von optischen Komponenten: Laser-/Photodioden
- Test von organischen Komponenten: OLED (Organic Light Emitting Diode)
- Test von Solarzellen und Batterien
- Charakterisierung von Materialien aus der Nanotechnologie
- Test von Power-Management-Geräten: Linearregler LDO (low-dropout)
- Prüfung von Halbleiter-Komponenten: Dioden, Laserdioden, LEDs, Sensoren, FETs, Transistoren, ICs, Widerstände, Varistoren, Thermistoren, Schalter usw.
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