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Keithley 2634B | SourceMeter, SMU, 200 mV bis 200 V / 1 nA bis 10 A / max. 30,3 W, 2-Kanal

Herstellernummer: 2634B

2634B
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Keithley 2634B | SourceMeter SMU, Source Measure Unit, 2-Kanal, Ausgangsspannung 200 mV bis 200 V, Ausgangsstrom 1 nA bis 10 A, Ausgangsleistung bis 30,3 W, integriertes Digitalmultimeter 6½-stellig, Strom-/Spannungsquelle und -senke, Arbiträr-Signalgenerator.

  • Anzahl Kanäle: 2
  • 4-Quadranten-Betrieb: Einsatz als Präzisionsquelle und -senke
  • Integriertes Digitalmultimeter: 6½-stellig, DCV, DCI, Widerstand
  • 4 Ausgangsspannungsbereiche: 200 mV, 2 V, 20 V, 200 V
  • Messauflösung der Spannung: 100 nV bis 100 µV, je nach Messbereich
  • Grundgenauigkeit der Spannungsmessung: 0,015 %
  • 10 Ausgangsstrombereiche: von 1 nA bis 10 A
  • Messauflösung des Stroms: 1 fA bis 10 µA, je nach Messbereich
  • Grundgenauigkeit der Strommessung: 0,02 bis 0,4 %, je nach Messbereich
  • Maximale Ausgangsleistung: 30,3 W je Kanal
  • I/V-Charakterisierung via Mobilgerät: kompatibel mit der Keithley-App IVy für Plug&Play I/V-Messungen mit Android-Gerät
  • Optionale ACS-Software zur Halbleiterkomponenten-Charakterisierung mit Trace-Funktion (erzeugt einen Satz charakteristischer Kurven für Bauteile)
  • Schnittstellen: USB 2.0, GPIB, LXI Ethernet, RS-232
  • Stromversorgung: 100 bis 250 V AC, 50 bis 60 Hz
  • Maße: B 238 x H 104 x T 460 mm (inkl. Tragegriffe)
  • Gewicht: 5,5 kg

Dokumente und Downloads

Broschüre
pdf | 2.98 MB
Datenblatt
pdf | 1.04 MB

Beschreibung

2634B | SourceMeter, SMU, 200 mV bis 200 V / 1 nA bis 10 A / max. 30,3 W, 2-Kanal

Die SMU-Serie 2600B bietet Ein- und Zweikanal-Modelle, die Ihre Messaufgaben als Präzisionsstromversorgung, elektronische Last, 6½-stelliges DMM (Digitalmultimeter) sowie als Arbiträr-Signalgenerator unterstützen – für eine Produktivitätssteigerung bei der I/V-Charakterisierung im Labor bis hin zum hochautomatisierten Produktionstest. Die integrierte webbasierte Software ermöglicht ortsunabhängige I-V-Messungen über jeden beliebigen PC. Alternativ wird die einfache und schnelle Plug&Play-Anwendung via Keithley-App IVy und einem Android-Mobilgerät unterstützt.

Um Ihre Testdurchsätze zu optimieren, können Sie dank der intelligenten TSP-Technologie (Test Script Processor) komplette Testprogramme in automatisierten Systemanwendungen ausführen. Via TSP-Link lassen sich zudem bis zu 32 TSP-fähige Geräte der SMU-Serie 2600B miteinander verbinden. Eine Host-Schnittstelle ermöglicht die Ansteuerung aller integrierten Geräte von einem zentralen PC aus. Die eingebaute 500-ns-Triggersteuerung dieses Multikanal-Systems ermöglicht parallele Hochgeschwindigkeitsmessungen mit präzisem Timing und optimaler Synchronisierung (SMU-pro-Pin-Test). Für Anwendungen, die keine Automatisierung auf Systemlevel erfordern, umfasst die Serie 2600B drei besonders kosteneffiziente Benchtop-Modelle: 2604B, 2614B und 2634B. Diese Modellvarianten sind in ihrer Leistung mit den Pendants 2602B, 2612B und 2636B vergleichbar, verzichten dagegen auf TSP-Link, Kontaktprüfung und digitale E/A-Funktion.

Für die Entwicklung, Qualitätsprüfung oder Fehleranalyse von Halbleiter-Komponenten ist die optionale Software ACS Basic Edition verfügbar: mit Zugang zu umfangreichen Testbibliotheken, Skript-Editor zur schnellen Anpassung vorhandener Tests sowie Analysetools zum schnellen Vergleich von Messergebnissen und für vielfältige Mathematikfunktionen.

Lieferumfang

  • 2600-ALG-2 Triaxkabel mit Alligatorklemmen, 2 m
  • 2600B-800A Emulation Script (USB-Stick)
  • 7709-308A Digital-I/O-Konnektor
  • 2x CA-180-3A TSP-Link/Ethernet Cable
  • Dokumentations-CD
  • TSP Express Software-Tool (integriert)
  • Test Script Builder Software (CD)
  • LabVIEW-Treiber (CD)

Zubehör (3 Produkte)

2634B-EW
Tektronix
2634B-EW
1 Year Keithleycare Extended Warranty
Versandfertig in 5 bis 10 Arbeitstagen
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2634B-3Y-EW
Tektronix
2634B-3Y-EW
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Keithley
Keithley
Das Tektronix-Unternehmen Keithley wurde 1946 in einer Garage gegründet und entwickelte sich rasch zu einem führenden Anbieter fortschrittlicher elektrischer Messgeräte sowie Systeme für die besonderen Bedürfnisse von Herstellern elektronischer Geräte für Hochleistungs-Produktionstests, Prozessüberwachung und Produktentwicklung und -forschung.
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