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Keithley 2460 | SourceMeter, SMU, 4-Quadranten-Betrieb, 200 mV bis 100 V, 1 µA bis 7 A, max. 100 W

Herstellernummer: 2460

Keithley 2460 | SourceMeter, Hochstrom-SMU, 4-Quadranten-Betrieb als Quelle und Senke, sechs Spannungsbereiche 200 mV bis 100 V, 10 Strombereiche 1 µA bis 7 A DC und gepulst, Ausgangsleistung DC bis 100 W, integriertes Digitalmultimeter 6½-stellig.

  • 5 Geräte in einem: Strom-, Spannungsquelle sowie Messung von Strom, Spannung und Widerstand
  • 4-Quadranten-Betrieb: Einsatz als Präzisionsquelle und Senke
  • Integriertes Digitalmultimeter: 6½-stellig, Messgenauigkeit: 0,012 %
  • 2- und 4-Drahtmessungen
  • Ausgangsleistung: bis zu 100 W DC
  • 6 Spannungsbereiche (Quelle und Messen): 200 mV bis 100 V, Messgenauigkeit 0,015 bis 0,012 %
  • 10 Strombereiche (Quelle und Messen): 1 µA bis 7 A, Messgenauigkeit 0,02 bis 0,15 %
  • 9 Bereiche für Widerstandsmessung: <2 Ω bis >20 MΩ
  • 5 Sweep-Arten für Stromquellen-/Messbereich/-spannung: linear, logarithmisch, dual linear, dual log, benutzerdefiniert
  • 5-Zoll-Farbdisplay mit Touchfunktion
  • Messgeschwindigkeit: >3000 Rdgs/s
  • Pufferspeicher: >250.000 Rdgs
  • Schnittstellen: GPIB, USB, Ethernet (LXI), Digital I/O (int /ext. Triggersignale und Handler-Steuerung), TSP-Link
  • Stromversorgung: 100/240 V AC, 50/60 Hz
  • Maße: B 255 x H 106 x T 425 mm (inkl. Tragegriffe)
  • Gewicht: 4,75 kg

Beschreibung

2460 | SourceMeter, SMU, 4-Quadranten-Betrieb, 200 mV bis 100 V, 1 µA bis 7 A, max. 100 W

Das Hochstrom-SourceMeter 2460 verfügt über Gleichstrom- und Impulsstromfunktionen bis 7 A ist damit optimiert für die Charakterisierung und Prüfung von Hochleistungsmaterialien, Geräten und Modulen wie z. B. Siliziumcarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN), DC-DC-Wandler, MOSFETs, Solarzellen und Panels, LEDs oder Batterien.

All-in One SourceMeter:

Die Source Measure Unit 2460 bietet eine hochflexible Vier-Quadranten-Spannungs- und Stromquelle/Last gekoppelt mit präziser Strom- und Spannungsmessung. So vereint die SMU 2460 die Funktionen einer Präzisionsstromversorgung mit V- und I-Rückmeldung, einer elektronischen Präzisionslast, eines Digitalmultimeters für DCV, DCI, Widerstand und Leistung mit 6½-stelliger Auflösung sowie einer Triggersteuerung.

Das Grafikdisplay konvertiert Ihre Rohdaten und zeigt diese unmittelbar als interpretierfähige Informationen an, z. B. in Form von I-V-Kurven und Voltammogrammen oder tabellarisch. Zur erweiterten Analyse unterstützt das SourceMeter 2460 den Export der Testdaten z. B. in Excel. Mit der mitgelieferten Anwendungssoftware KickStart sind Sie innerhalb weniger Minuten und ohne Programmieraufwand bereit für die Durchführung Ihrer Messungen.

TSP-Technologie zur Systemintegration:

Um die Testdurchsätze zu optimieren, können Sie dank der TSP-Technologie (Test Script Processor) komplette Testprogramme in automatisierten Systemanwendungen ausführen. Benötigen Sie mehr Kanäle, können Sie via TSP-Link bis zu 32 SourceMeter 2460 miteinander sowie mit anderen TSP-fähigen SMU‘s, Multimetern oder Schaltsystemen von Keithley zu einem integrierten System verbinden. So lässt sich Ihre Konfiguration einfach und schnell an Ihre Testanforderungen anpassen.

Anwendungsbeispiele:

  • I-V-Charakterisierung und Funktionstests elektronischer Komponenten
  • Charakterisierung von Leistungsmaterialien und Halbleiter: SiC, GaN, IBGTs, MOSFETs
  • Charakterisierung von Leistungskomponenten: DC-DC-Wandler, Chipsets für die Telekommunikation
  • Elektrochemische Anwendungen: Lade-/Entlade-Zyklisieren von Batterien
  • Energieerzeugung: Solarzellen, Batterien
  • Energie-Verbrauchsoptimierung: LEDs, Module für Power-Management

Lieferumfang

  • 2460-KIT Anschlussset
  • 8608 Hochleistungsprüfleitung
  • USB-B-1 USB-Kabel, Typ A zu B, 1m
  • CS-1616-3 Anschluss für Sicherheitsverriegelung
  • ; Kabel TSP-Link/Ethernet

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Infos zum Hersteller

Keithley
Das Tektronix-Unternehmen Keithley wurde 1946 in einer Garage gegründet und entwickelte sich rasch zu einem führenden Anbieter fortschrittlicher elektrischer Messgeräte sowie Systeme für die besonderen Bedürfnisse von Herstellern elektronischer Geräte für Hochleistungs-Produktionstests, Prozessüberwachung und Produktentwicklung und -forschung.

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