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Keithley 2410 | SourceMeter SMU, Source Measure Unit, 4-Quadranten-Betrieb als Quelle und Senke, 1.100 V, 1 A, 20 W

Herstellernummer: 2410.

Keithley 2410
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Keithley 2410 | SourceMeter SMU, Source Measure Unit, 4-Quadranten-Betrieb als Quelle und Senke, max. Leistung bis 20 W, Ausgangsspannung 200 mV bis 1100 V, Ausgangsstrom 1 µA bis 1 A, integriertes Digitalmultimeter mit 6½ Stellen.

  • 5 Geräte in einem: Strom-, Spannungsquelle sowie Messung von Strom, Spannung und Widerstand
  • 4-Quadranten-Betrieb: Einsatz als Quelle und Senke
  • Integriertes Digitalmultimeter: 6½-stellig, Messgenauigkeit: 0,012 %
  • 2- und 4-Drahtmessungen sowie 6-Draht-Widerstandsmessung
  • Max. Ausgangsleistung: 20 W
  • Max. Stromquellen-/Messbereich: 1 A
  • Max. Spannungsquellen-/Messbereich: 1.100 V
  • Messauflösung (Strom/Spannung): 1 pA / 100 nV
  • 3 Sweep-Arten für Ausgangsstrom/-spannung: linearer Anstieg, logarithmischer Anstieg, frei wählbare Amplitudensequenz
  • Messbereiche für Widerstandsmessung: 200 mΩ bis 200 MΩ und > 200 MΩ
  • Speicher für bis zu 100 Gerätekonfigurationen (PC-unabhängig)
  • Schnittstellen: Handler, Digital I/O, GPIB, Keithley Trigger-Link
  • Stromversorgung: 100/240 V AC, 50/60 Hz
  • Maße: B 238 x H 104 x T 370 mm (inkl. Tragegriffe)
  • Gewicht: 3,2 kg

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Beschreibung

2410 | SourceMeter SMU, Source Measure Unit, 4-Quadranten-Betrieb als Quelle und Senke, 1.100 V, 1 A, 20 W

Eine Source Measurement Unit (SMU) versorgt Ihr DUT (Device Under Test) mit einem definierten Strom bzw. einer definierten Spannung und erfasst als Messgerät gleichzeitig das Verhalten des Prüflings. Je nach Messbereich und Auflösung des integrierten Digitalmultimeters bis in den µV- und pA-Bereich kann so ein Design im Entwicklungsstadium oder die Qualität im Produktionsumfeld beurteilt werden.

Intuitive Benutzeroberfläche, intelligente Funktionen:

Mit dem SourceMeter 2410 mit integriertem 6½-stelligen Digitalmultimeter, multitouch-fähigem Display und integrierten Mathematikfunktionen lassen sich Standardberechnungen automatisiert durchführen und darstellen. Zusätzlich lassen sich Histogramme erstellen, um z. B. Varianzen zu ermitteln. Das SMU 2410 kann ohne externen PC bedient werden, so dass Ihre Ergebnisse sehr schnell verfügbar sind, was gerade bei Tests im Produktionsumfeld ein wesentlicher Aspekt ist.

Typische Einsatzbereiche:

  • Halbleiter, aktive und passive Bauelemente
  • Integrierte Schaltungen wie IC, RFIC, MMIC, MOSFET
  • Laserdioden und -module, LEDs, Photodetektoren und - sensoren
  • Modul-Sicherungen wie TVS (Transient Voltage Superessor) und MOV (Metal Oxide Varistor)
  • Schalter, Relais, Stecker
  • LIV-Antriebe (Lithium-Ionen-Fahrzeuge)
  • DC-Leistungsquellen / -Netzgeräten / -Netzteilen

Anwendungsbeispiele:

  • Leckstrom-Messung
  • Messung kleiner Spannungen und Widerstände
  • IDDQ: Test von CMOS-IC auf Fertigungsfehler durch Messen des IC-Ruhestroms bei statisch belegten Eingängen
  • I-V-Kennlinienaufnahme, z. B. von Dioden
  • Isolationswiderstand und Spannungsfestigkeit
  • Messung von Temperaturkoeffizienten
  • Durchbruchspannung und -strom
  • DC-Parametertest
  • Effizienzmessung von photovoltaischen Bauelementen

Lieferumfang

  • 8605 Prüfleitung
  • Treiber für LabVIEW (Download)
  • Software LabTracer (Download)

Zubehör (7 Produkte )

Tektronix 2410-C-3Y-EW-STD
Tektronix 2410-C-3Y-EW-STD
3 Year Keithleycare Extended Warranty
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Tektronix 2410-C-EW
Tektronix 2410-C-EW
1 Year Keithleycare Extended Warranty
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Tektronix 2410-3Y-EW-STD
Tektronix 2410-3Y-EW-STD
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Tektronix 2410-5Y-EW-STD
Tektronix 2410-5Y-EW-STD
5 Year Keithleycare Extended Warranty
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Tektronix 2410-EW
Tektronix 2410-EW
1 Year Keithleycare Extended Warranty
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Tektronix 2410-C-5Y-EW-STD
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Tektronix 2410-3Y-EW-STD
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Keithley
Keithley
Das Tektronix-Unternehmen Keithley wurde 1946 in einer Garage gegründet und entwickelte sich rasch zu einem führenden Anbieter fortschrittlicher elektrischer Messgeräte sowie Systeme für die besonderen Bedürfnisse von Herstellern elektronischer Geräte für Hochleistungs-Produktionstests, Prozessüberwachung und Produktentwicklung und -forschung.
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