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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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514 Produkte
10833B
117,00 €
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FLUKE H900
45,65 € 55,00 €
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N1254A-107
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N1294A-032
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934-064-104
7,15 €
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1CM024A
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1CN018A
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MI031
10,00 €
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N9356C
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J7201A-908
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TA089
8,00 €
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U1577A
25,27 €
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934-062-101
7,25 €
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TA264
66,00 €
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934-070-102
6,15 €
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XKM-S
71,50 €
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934-058-104
4,25 €
9 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
1CM034A
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934-070-104
6,15 €
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