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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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TA310
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783492-01
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LTC9901A-4
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J7201B-002
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P01101921
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1CM021A
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PX0106A
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TA265
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TL175
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8490G
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J7201B-909
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84908M
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1CM042A
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