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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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515 Produkte
1CP001A
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TRX-1100V-2
946,00 €
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N1254A-517
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11582A
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934-065-101
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N9399C
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TA130
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PM9092/001
134,46 € 162,00 €
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PZ2110A
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HA-Z367
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P01295451Z
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TA340
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1CN012A
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8101-PIV
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P01295476
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P01295454Z
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P01295453Z
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1CP026A
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RT-ZA11
20,00 €
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934-062-102
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