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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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515 Produkte
N1412A
567,00 €
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783539-01
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1CM032A
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8490D
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N4697K
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N9910X-860
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AC220
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934-060-101
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PZ2131A
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2657A-LIM-3
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N1417A
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TA313
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E5810B-300
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TP220-1
26,56 € 32,00 €
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TA342
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8494G
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J7201C-909
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1CM068A
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