Halbleiter- und Komponententest
Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.
537 Produkte
Keysight 8496H
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Programmierbarer Stufenabschwächer 0-110 dB, 0-18 GHz
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Keithley 4225-RPM
5.240,00 €
Remote Preamplifier/Switch Modul für Parameter Analysator 4200A-SCS
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Keysight N1295A
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Device/Component Test Fixture 4 Triax Connectors for B2900A series
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Rohde&Schwarz RBU50
1.800,00 €
Leistungsdämpfungsglied 50 W, 6 dB, 50 Ohm, DC bis 2 GHz, Typ-N (f) auf Typ-N (m) (1073.8695.06)
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Keysight J7204B
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Abschwächer, 4-Kanal, 0 bis 121 dB, DC bis 18 GHz, 1 dB-Stufen
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