Halbleiter- und Komponententest
Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.
537 Produkte
HT 2002900
129,00 €
DAA-16 CEE-16A Messadapter (CEE 5 Pol Stecker mit 5 Anschlussbuchsen)
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Keysight N1254A-104
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Triax (f) to BNC (m) adaptor, current measurement, Grounded DUT/sample
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Rohde&Schwarz ZZA-S234
345,00 €
Adapter, Rack, 19 Zoll, 2 HE 3/4, inkl. Stoßschutz (1109.4493.00)
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PMK 972-307-101
13,75 €
KLEPS 2700-RT Sicherheits-Klemmprüfspitze mit zweigeteilter Prüfklemme (rot)
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Chauvin Arnoux P01103081
376,00 €
418,00 €
Kelvin-Prüfspitzen, einziehbar 2 Stück, 25A mit 3m Kabel
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Keysight 83059C
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Adapter, 3,5 mm (m) auf 3,5 mm (f) , DC - 26,5 GHz
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Chauvin Arnoux P01103063
373,00 €
415,00 €
Kelvin-Prüfspitzen, einziehbar und drehbar 2 Stück, 10A, für CA6240 u. CA6250
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Keysight 1CN103A
507,00 €
Handle kit 177 mm (4U), 2 Griffe, Farbe: Schwarz ( 2015 color
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PMK 680-065-010
137,50 €
TKL 065 BAN - Kelvin Messleitung, 65 cm 4 mm Bananenstecker auf 2 Zangen, vergoldet
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WEKOMM RS9010A-1M
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Hochstabile, ultrapräzise Widerstandsnormale 1 MOhm
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HT 1003180
19,90 €
6007-IECR Flexible Krokodilklemme (6A) rot, aufsteckbar an jede Messleitung mit 4 mm Buchse
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