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Chroma 11021-10K | LCR Meter, 10kHz inkl. RS232-Interface

Herstellernummer: 11021-10K

11021-10K
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Highlights Dokumente / Downloads Beschreibung Lieferumfang Zubehör

Chroma 11021-10K | LCR Meter, 10kHz inkl. RS232-Interface.

  • Testfrequenzen: 100 Hz, 120 Hz, 1 kHz und 10 kHz
  • Grundgenauigkeit: 0,1 %
  • Impedanzmessbereich: 0.1 mΩ bis 99.99 MΩ
  • Auflösung: 4 ½ Stellen
  • Geringer Einfluss von harmonischen Verzerrungen
  • Schnelle Messgeschwindigkeit: 75 ms
  • Interfaces: standardmäßig RS232 integriert; optional erhältlich: GPIB oder Handler-Interface
  • Programmierbare Trigger-Verzögerung zur Mess-Synchronisation in automatisierten Produktionsumgebungen (Handler etc.)
  • Bin-Sortierfunktion
  • Komparator mit Pass/Fail-Funktion und akustischem Signal
  • LCD-Display mit Matrix von 4x40
  • Anwenderfreundliches Benutzer-Interface
  • Nullabgleich bei Open oder Short
  • Online-Firmware-Updates via RS232
  • Eingangsenergie-Schutz: 1 Joule

Dokumente und Downloads

Datenblatt
pdf | 0.41 MB

Beschreibung

11021-10K | LCR Meter, 10kHz inkl. RS232-Interface

Das LCR-Meter 11021 von Chroma ist eines der kosteneffektivsten Digital-LCR-Messgeräte mit Testfrequenzen von 100 Hz, 120 Hz, 1 kHz und 10 kHz. Standardmäßig ist eine RS232-Schnittstelle integriert. Optional sind eine GPIB-Schnittstelle und eine Handler-Schnittstelle verfügbar. Schnelle und stabile Messungen sind mit dem Chroma-LCR-Meter 11021 sowohl zur Evaluation von Bauteilen als auch für fundamentale Impedanzmessungen im Produktionsbereich möglich.

Lieferumfang

  • Netzkabel, Testadapter A110232, BNC-Testkabel mit Clips, CD, Sicherheits-Information
  • Netzspannung: 90 bis132 VAC oder 180 ~ 264 VAC, 47 bis 63 Hz
  • Abmessungen: B 320 x H 100 x T 206,4 mm
  • Gewicht: 4 kg

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Infos zum Hersteller

Chroma
Chroma
Chroma ATE ist der weltweit größte Anbieter von Power Testinstrumenten und -systemen, einschließlich programmierbarer AC-Quellen und DC Stromversorgungen, Labornetzgeräten, Elektronischen AC- und DC-Lasten, digitalen Messgeräten, Multimetern und automatisierten Prüfsystemen.
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