Das Set SX1 enthält drei passive Nahfeldsonden zur entwicklungsbegleitenden Messung von hochfrequenten E-Feld und Magnetfeld von 1 GHz bis 10 GHz. Die Sondenköpfe des Set SX ermöglichen Messungen dicht auf der Elektronikbaugruppe z.B an einzelnen IC-Pins, Leiterzügen, Bauteilen und deren Anschlüssen zur Lokalisierung von Störaussendungsquellen. Die Feldorientierung und Feldverteilung auf der Elektronikbaugruppe können durch entsprechende Führung der Nahfeldsonden ermittelt werden. Die Nahfeldsonden sind klein und handlich. Sie haben eine Mantelstromdämpfung. Die Magnetfeldsonden sind elektrisch geschirmt. Die Nahfeldsonden werden an einen Spektrumanalysator oder ein Oszilloskop mit 50 Ω Eingang angeschlossen. Alle Sonden besitzen intern einen Abschlusswiderstand.
Hohe Taktraten, wie z.B. über 3 GHz nähern sich schon bei der 3. Oberschwingung 10 GHz an. Diese Oberschwingungen werden von HF-Quellen auf der Baugruppe, z.B. Leiterzugabschnitten, ICs und anderen Bauteilen, ausgekoppelt. Andere Konstruktionsteile der Baugruppe können zum Schwingen angeregt werden und zur Störaussendung führen. Bei der hohen internen Grundfrequenz heutiger Baugruppen ist die Messung von harmonischen Frequenzvielfachen ein Schritt in die sichere EMV.
Lieferumfang:
- 1x SX-E 03, E-Feldsonde 1 GHz bis 10 GHz
- 1x SX-B 3-1, H-Feldsonde 1 GHz bis 10 GHz
- 1x SX-R 3-1, H-Feldsonde 1 GHz bis 10 GHz
- 1x SMA-SMA 1 m, Messkabel SMA-SMA
- 1x Case 4, Systemkoffer Nahfeldsonden