Keysight B2983B | Femto- / Picoamperemeter 6,5 Digits, 0,01 fA - 20 mA, Akku
Herstellernummer: B2983B
Auf Anfrage
Keysight B2983B | Femto-/Pico-Amperemeter, von 0,01 fA bis 20 mA, 6,5 Stellen, Akku-Betrieb.
- Effektive Messauflösung: 0,01 fA
- Strommessbereiche: 2 pA bis 20 mA
- Integrierter Li-Ionen-Akku, um netzbedingte Störungen / Rauschen zu verhindern
- Graphisches, farbiges Display mit 6,5 stelliger numerischer Anzeige
- Kleinste Versorgungsspannung: <20 µV im kleinsten Strommessbereich
- Bis zu 20.000 Messungen/s
- Messwertspeicher bis zu 100.000 Messungen
- Graphische Darstellung der Messwerte (Kurvenverlauf über der Zeit), numerische Darstellung der Messwerte, Histogramme, Statistiken, Trendanalyse
- Einfache und automatische Einstellungen für optimale Messbereichsselektion und für die Messzeitfenster
- Optional: Test-Setup Integrity Checker-Funktion zur Identifizierung von Rauschquellen im Messaufbau
- Schnittstellen: USB auf Frontplatte und Rückwand, LAN, GPIB, LXI
- Über USB-Frontplatten-Schnittstelle: Messdatenspeicherung, Speichern und recall von Geräteeinstellungen
- Kostenfreie PC-Software zur Gerätesteuerung
- Abmessungen: Höhe: 88 mm (2U), Breite: 213 mm (1/2 Breite), Tiefe: 348 mm
- Gewicht: 4,9 kg
- Garantie: 3 Jahre
Technische Daten
Abmessungen (L x B x H) (mm): | 374 x 261 x 104 |
---|---|
Anzahl der Stellen: | 6.5 |
Artikelnummer: | B2983B |
Besonderheiten: | Ladungsmessung |
Diodentest / Durchgangstest: | Nein / Nein |
Display: | 4.3", grafisch |
Gewicht (kg): | 5.5 |
Messungen pro Sekunde: | 20000 |
Modell: | B2983B |
Schnittstellen: | USB, LAN, GPIB |
Strom-Messbereich DC: | 2 pA - 20 mA |
Temperaturmessung: | Nein |
Dokumente und Downloads
Beschreibung
B2983B | Femto- / Picoamperemeter 6,5 Digits, 0,01 fA - 20 mA, Akku
Einzigartig ist das Femto- / Pico-Amperemeter der B2900B-Serie mit dem man sicher bis zu 0,01 fA (f femto = 10 hoch -15) messen kann. Durch weitere Eigenschaften lässt dieses Femto-Amperemeter alle anderen Konkurrenzmodelle weit hinter sich. Mit einer Auflösung von 0,01 fA (femto Ampere) werden vor allem bei den neuen Technologien in der Halbleitertechnik, der Nanotechnik und bei der Erforschung neuer Isolationsmaterialien in der Materialtechnik sehr kleine Ströme sicher mess- und nachweisbar.
Charakteristisch hierfür ist, dass dieses Gerät über ein außerordentlich geringes Rauschen verfügt, damit derart kleine Ströme überhaupt messbar sind. Dieses Gerät hat zusätzlich einen Li-Ionen Akku, der dazu dient, das integrierte Netzteil als mögliche Rauschquelle und Störquelle auszuschalten. Durch den Akku-Betrieb wird die Messgenauigkeit noch weiter erhöht.
Mit dem ca. 11 cm (Diagonale) großen farbigen graphischen Display lassen sich Messkurven oder Histogramme darstellen, um die Messwerte abzuschätzen oder um Tendenzen aufzeigen zu können. Natürlich lassen sich die Messwerte auch numerisch darstellen. Zudem sind auf die aufgenommenen Messwerte auch Statistiken anwendbar ohne dass ein PC benötigt wird.
Bei derartig geringen Strömen kommt auch den Messleitungen und dem Messaufbau eine spezielle Bedeutung zu. Das Gerät unterstützt dahingehend, dass für eine verlässliche Messung auch die Messkabel, Messanschlüsse und Messaufnahmen den Anforderungen entsprechen. Mit der Setup Integrity Checker-Software wird der Rauschpegel unterschiedlicher Kabel und Messaufnahmen verglichen. Damit lassen sich dann die Rauschquellen im Messaufbau identifizieren und eliminieren.
Zudem bietet das Gerät weitere Messhilfen an, die es auch ungelerntem Personal ermöglicht korrekte Messungen durchzuführen.
Anwendungsgebiete B2980B-Serie:
- Materialforschung (Biomaterial, Keramik, Elastomere, Filme, Dielektrika, elektromechanische Materialien, Magnetische Materialien, Graphite, Metalle, Organische Materialien, Nano-Materialien, Polymere, Halbleiter, etc.)
- Elektronische Komponenten (Kapazitäten, Widerstände, Dioden, Sensoren, Transistoren incl. TFT und CNT, optoelektronische Komponenten, Solarzellen, usw.)
- Elektronische und nichtelektronische Systeme (Ionenstrahl, Elektronenstrahl, empfindliche Sensorsysteme, Teilchenmessungen, embedded Systeme etc.)