Die Nahfeldmikrosonde dient zur hochauflösenden Messung elektrischer Nahfelder. Mit der ICR E Sonde können folgende Messungen durchgeführt werden:
- Surface Scan über IC lt. IEC 61967-3
- Volumenscan über IC
- PIN-Scan
Im Sondengehäuse ist ein Vorverstärker integriert, der durch den Bias-Tee mit Strom versorgt wird.
Die ICR-Nahfeldmikrosonden werden vor der Auslieferung einer Qualitätsprüfung unterzogen. Dabei werden verschiedene Messungen an Referenzanordnungen durchgeführt und resultierende Korrekturkennlinien erzeugt. Es werden zwei verschiedene Korrekturkennlinien ermittelt:
- Standardisierte Korrekturkennlinie
- E-Feldkorrekturkennlinie
Achtung: Die ICR Sonde ist aufgrund ihrer Konstruktion stoßempfindlich und wird mit einem Transport- und Handlingschutz ausgeliefert.